Invention Grant
- Patent Title: 一种光斑外形尺寸和位置的精确测试方法
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Application No.: CN201910111186.0Application Date: 2019-02-12
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Publication No.: CN110097533BPublication Date: 2023-04-07
- Inventor: 康为民
- Applicant: 哈尔滨新光光电科技股份有限公司
- Applicant Address: 黑龙江省哈尔滨市开发区迎宾路集中区南湖街1号
- Assignee: 哈尔滨新光光电科技股份有限公司
- Current Assignee: 哈尔滨新光光电科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 黑龙江省哈尔滨市开发区迎宾路集中区南湖街1号
- Agency: 哈尔滨龙科专利代理有限公司
- Agent 高媛
- Main IPC: G06T7/00
- IPC: G06T7/00 ; G06T7/13
Abstract:
本发明公开了一种光斑外形尺寸和位置的精确测试方法，其特征在于在不显著增加运算量的基础上，实现对光斑的识别和精确测量，具体测量方法为：首先，对采集到的单幅图像进行亚像元分析，获得光斑的边缘信息，然后运用椭圆算法对边缘信息进行拟合处理，获得精确的光斑外形尺寸，最后利用质心算法计算得到光斑中心位置；本发明解决了传统光斑位置测试过程中运算时间长、精度低的问题，具有方法原理简单，运算速度快的特点。
Public/Granted literature
- CN110097533A 一种光斑外形尺寸和位置的精确测试方法 Public/Granted day:2019-08-06
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