Invention Grant
- Patent Title: 用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法
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Application No.: CN201910490623.4Application Date: 2019-06-06
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Publication No.: CN110160464BPublication Date: 2024-07-23
- Inventor: 钟亦林 , 蔡潇雨 , 魏佳斯 , 李源
- Applicant: 上海市计量测试技术研究院
- Applicant Address: 上海市静安区长乐路1226号
- Assignee: 上海市计量测试技术研究院
- Current Assignee: 上海市计量测试技术研究院
- Current Assignee Address: 上海市静安区长乐路1226号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 韩双宏
- Main IPC: G01B11/24
- IPC: G01B11/24

Abstract:
本发明涉及一种用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法,利用本发明的一种用于测量内孔圆柱度的装置对被测工件的被测内孔进行检测时,通过第一检测杆、第二检测杆和第三检测杆在不同测量截面检测得出测量值并计算出被测内孔在测量截面上的圆度误差,并根据每个测量截面处第一检测杆、第二检测杆、第三检测杆以及倾角传感器的测量值计算得出被测内孔中心线的直线度误差,根据所得出的各测量截面上的圆度误差及被测内孔中心线的直线度误差就能够计算得出被测内孔的圆柱度误差。由此可见,本发明的一种用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法能够方便地对工件的内孔参数进行检测。
Public/Granted literature
- CN110160464A 用于测量内孔圆柱度的装置及其使用方法 Public/Granted day:2019-08-23
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