Invention Grant
- Patent Title: 精确的角反射器几何误差测量方法
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Application No.: CN201910501097.7Application Date: 2019-06-11
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Publication No.: CN110208777BPublication Date: 2021-07-13
- Inventor: 杜少岩 , 洪峻 , 王宇 , 郑巧娜 , 李一明
- Applicant: 中国科学院电子学研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区北四环西路19号
- Assignee: 中国科学院电子学研究所
- Current Assignee: 中国科学院电子学研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区北四环西路19号
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 任岩
- Main IPC: G01S7/497
- IPC: G01S7/497 ; G01S17/90 ; G01S17/42
Abstract:
本发明公开了一种角反射器几何误差测量方法，包括：建立角反射器的理想三维模型；使用3D激光雷达对待测角反射器进行扫描，得到所述待测角反射器的真实三维点云模型；利用所述真实三维点云模型与所述理想三维模型进行误差计算，得到所述待测角反射器的各个平面的平整度误差、直角度误差和边长误差。本发明采用3D激光雷达获取角反射器真实点云三维模型，并与建立的理想模型进行对比计算误差，提升了测量精度和测量范围。
Public/Granted literature
- CN110208777A 精确的角反射器几何误差测量方法 Public/Granted day:2019-09-06
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