本发明提供一种基于朴素贝叶斯分类器的内存测试方法，包括如下步骤：S1.选择内存引入测试项目；S2.根据内存引入测试项目的测试结果对应的产线良率生成训练数据；S3.使用训练数据对朴素贝叶斯分类器进行训练分类；S4.采用经过训练的朴素贝叶斯分类器对即待引入内存进行产线良率预测；S5.根据预测的产线良率判断是否对待引入内存进行引入。本发明采用测试项选择依据、参数化处理方法以及朴素贝叶斯与测试项相结合的方式，将现有内存引入测试项目与朴素贝叶斯分类器的人工智能算法相结合，实现待引入内存产线良率预测，判断待引入内存好坏，为部件工程师提供可控的计算支撑。