- 专利标题: 一种基于轮廓系数和AP聚类算法的离散覆盖仓库选址方法
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申请号: CN201910423583.1申请日: 2019-05-21
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公开(公告)号: CN110287989B公开(公告)日: 2021-04-16
- 发明人: 李石君 , 龚红霞 , 杨济海 , 李学礼 , 余伟 , 余放 , 王凯 , 李宇轩
- 申请人: 武汉大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人: 武汉大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
- 代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 罗飞
- 国际申请: 无
- 国际公布: 无
- 主分类号: G06K9/62
- IPC分类号: G06K9/62 ; G06Q10/08
摘要:
本发明公开了一种基于轮廓系数和AP聚类算法的离散覆盖仓库选址方法,将库存承载力作为衡量偏度的方法,有效反映了仓库容量与辐射范围的正比关系;考虑轮廓系数的定义,根据簇的内聚度和分离度引入新的约束,同时考虑优化中心覆盖面积和等待时间,在信息迭代传播时对偏度进行自适应更新。基于轮廓系数约束和偏度更新的AP聚类算法有助于避免震荡,加快算法收敛速度,获得兼具理想服务范围和合理响应时间的中心组合。本发明的方法可以达到提高选址准确性和改善选址综合性能的技术效果。
公开/授权文献
- CN110287989A 一种基于轮廓系数和AP聚类算法的离散覆盖仓库选址方法 公开/授权日:2019-09-27