- 专利标题: 一种利用电场效应增强加工区域酸碱度的锗平面镜化学抛光方法
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申请号: CN201910716725.3申请日: 2019-08-05
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公开(公告)号: CN110328607B公开(公告)日: 2020-05-29
- 发明人: 冯凯萍 , 欧进乾 , 周兆忠 , 赵天晨 , 许庆华
- 申请人: 衢州学院
- 申请人地址: 浙江省衢州市柯城区九华北大道78号
- 专利权人: 衢州学院
- 当前专利权人: 嘉兴知酷客信息科技有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省衢州市柯城区九华北大道78号
- 代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理商 郑海峰
- 主分类号: B24B37/10
- IPC分类号: B24B37/10 ; B24B37/04 ; B24B57/02 ; C09G1/04
摘要:
本发明公开了一种利用电场效应增强加工区域酸碱度的锗平面镜化学抛光方法,制造高介电常数真空吸盘和高介电常数抛光盘,在抛光盘和基盘的非工作端面涂上高温银浆,接上电极,绝缘处理;将锗平面镜真空吸附在多孔陶瓷基盘上,采用化学抛光液进行抛光加工。本方法的抛光原理为使用高介电常数陶瓷抛光盘,在抛光盘和真空吸附陶瓷基盘接上电极后,在抛光区域产生强电场,氢离子或氢氧根离子向工件表面移动,增强了工件表面酸碱度,提高了抛光液对工件表面的腐蚀性,在液动压流体的剪切作用下,对工件表面进行化学非接触抛光。本方法通过电场实现对工件表面的PH值可控,化学非接触抛光提高了工件表面质量,避免表面磨损。
公开/授权文献
- CN110328607A 一种利用电场效应增强加工区域酸碱度的锗平面镜化学抛光方法 公开/授权日:2019-10-15