发明公开
- 专利标题: 提高OFDR频域采样率的装置和方法
- 专利标题(英): Device and method for improving OFDR frequency domain sampling rate
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申请号: CN201910688206.0申请日: 2019-07-29
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公开(公告)号: CN110375779A公开(公告)日: 2019-10-25
- 发明人: 王辉文 , 张晓磊 , 温永强 , 张晓乔
- 申请人: 武汉隽龙科技股份有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号
- 专利权人: 武汉隽龙科技股份有限公司
- 当前专利权人: 武汉昊衡科技有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 许美红
- 主分类号: G01D5/353
- IPC分类号: G01D5/353
摘要:
本发明涉及一种提高OFDR频域采样率的装置和方法。该装置包括扫频激光器、光纤耦合器、测量模块、辅助模块、数据采集卡、计算机。测量模块中,参考臂信号与测量臂发生拍频干涉,产生的拍频信号由辅助模块中产生的外部时钟信号控制数据采集卡等频域采集。根据测量长度大小,划分N次采样,在辅助模块干涉仪两臂频差固定的条件下,利用移频器调节,依次将采样信号频率平移进行数据采集。将多次采集数据叠加后进行FFT运算,得到最终结果。该方法提高了OFDR频域采样率,有利于扩大OFDR测量范围,且测量范围能按用户需要进行调整,方法便利,结果精准,能满足各类测量环境的需求。
公开/授权文献
- CN110375779B 提高OFDR频域采样率的装置和方法 公开/授权日:2021-06-04