一种X荧光钴内标-ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法
摘要:
本发明公开了一种X荧光钴内标-ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法,采用钴内标法,通过X射线荧光法建立铁元素工作曲线,实现对铁料中全铁含量的检测,并以铁元素含量与铁元素强度和钴元素强度之比的比值,计算出钴对全铁含量的补偿系数;采用ICP光谱法建立钴元素工作曲线,实现对铁料中钴元素含量的检测;钴元素含量乘以补偿系数,并将此结果与X射线荧光法测试的全铁含量相加,即可得到待测铁料样品中的全铁含量。该方法可实现多元素同时检测,且单个样品的检测时间在18分钟内;检测速度比国标方法快了近10倍,检测成本是国标手工法的一半,检测结果误差优于国标规定范围。
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