发明公开
- 专利标题: 一种平板探测器环状伪影去除方法
- 专利标题(英): Method for removing annular artifacts of flat panel detector
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申请号: CN201910645908.0申请日: 2019-07-17
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公开(公告)号: CN110400358A公开(公告)日: 2019-11-01
- 发明人: 孙奎奎 , 韩玉 , 闫镔 , 李磊 , 陈健 , 席晓琦 , 梁宁宁 , 张刚 , 王坤 , 杨程凯 , 周桑桑
- 申请人: 郑州信大先进技术研究院 , 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
- 申请人地址: 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街55号
- 专利权人: 郑州信大先进技术研究院,中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
- 当前专利权人: 郑州信大先进技术研究院,中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
- 当前专利权人地址: 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街55号
- 代理机构: 郑州德勤知识产权代理有限公司
- 代理商 张微微
- 主分类号: G06T11/00
- IPC分类号: G06T11/00 ; G06T5/00
摘要:
本发明提供一种平板探测器环状伪影去除方法,利用CT系统检测出不响应的探元并记入坏点模板;然后分别计算每个探元响应与管电流的相关系数,检测出像素值最快达到极大值的探元,将以上方法检测出的探元记入坏点模板;在无坏点区域取有限个感兴趣区域,将感兴趣区域进行叠加平均得到相应的正弦图;以感兴趣区域的正弦图为基准,利用B样条曲线对坏点区域进行拟合逼近,得到初步校正结果;采用H-L一致性条件对初步校正结果进行平滑处理,得到校正后的输出。本发明能够有效去除环状伪影,并且只需一个固定的阈值,解决了现有坏点检测方法中阈值选择困难的问题,可适用于多种类型探测器,并能够改善图像信噪比。
公开/授权文献
- CN110400358B 一种平板探测器环状伪影去除方法 公开/授权日:2022-10-04
IPC分类:
G | 物理 |
G06 | 计算;推算或计数 |
G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
G06T11/00 | 2D〔二维〕图像的生成 |