- 专利标题: 一种架空绝缘导线绝缘层厚度检测装置与方法
- 专利标题(英): Device and method for detecting thickness of insulation layer of overhead insulated conductor wire
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申请号: CN201910748443.1申请日: 2019-08-14
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公开(公告)号: CN110426010A公开(公告)日: 2019-11-08
- 发明人: 陈山 , 龙剑 , 杨金东 , 徐肖伟 , 郭俊
- 申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- 申请人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- 专利权人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- 当前专利权人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- 代理机构: 北京弘权知识产权代理事务所
- 代理商 逯长明; 许伟群
- 主分类号: G01B21/08
- IPC分类号: G01B21/08
摘要:
本申请公开了一种架空绝缘导线绝缘层厚度检测装置与方法,采用本申请的架空绝缘导线绝缘层厚度检测方法进行层厚度检测,无需切取的检测样片,因此,解决绝缘层较难从导线内芯上剥离或者仍有部分绝缘材料残留在导线内上,从而影响测量结果的准确性的问题。另外,采用本申请的架空绝缘导线绝缘层厚度检测方法进行层厚度检测时,可测量待测架空绝缘导线上的多个位置上的绝缘厚度,从而解决了因涂敷不均造成的测量误差较大的问题。本申请的架空绝缘导线绝缘层厚度检测装置与方法,结构简单,造价低廉,使用过程简便、易操作,且准确率高,便于广泛推广使用。
公开/授权文献
- CN110426010B 一种架空绝缘导线绝缘层厚度检测装置与方法 公开/授权日:2021-02-26