发明公开
- 专利标题: IGBT低频噪声检测装置
- 专利标题(英): IGBT low-frequency noise detecting device
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申请号: CN201910728583.2申请日: 2019-08-08
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公开(公告)号: CN110426619A公开(公告)日: 2019-11-08
- 发明人: 陈晓娟 , 张新超 , 曲畅 , 吴洁 , 南春岩 , 李宁
- 申请人: 长春理工大学
- 申请人地址: 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号
- 专利权人: 长春理工大学
- 当前专利权人: 长春理工大学
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号
- 代理机构: 长春众邦菁华知识产权代理有限公司
- 代理商 朱红玲
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
IGBT低频噪声检测装置,涉及电子测量技术领域,解决现有电子器件可靠性检测中对器件的损伤问题,整体系统包含硬件测试系统和软件分析平台两个部分。硬件系统包含电源系统、低噪声偏置电路、低噪声前置放大器及高速数据采集卡四个部分模块;软件分析平台分为时域分析模块、频域分析模块、数据存储模块、数据读取模块、信号采集模块和报告生成模块。其中的硬件系统主要完成IGBT漏极电压噪声的测量,软件平台主要完成低频噪声数据的时间序列的显示,并对高速数据采集卡得到的噪声数据完成频谱分析,最终实现IGBT器件的低频噪声的检测。本发明可避免传统电子器件可靠性检测中对器件噪声的不可逆损伤,实现对IGBT低频噪声的无损检测。
公开/授权文献
- CN110426619B IGBT低频噪声检测装置 公开/授权日:2021-10-08