发明授权
- 专利标题: 半导体器件及其制造方法
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申请号: CN201910759601.3申请日: 2019-08-16
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公开(公告)号: CN110444555B公开(公告)日: 2022-04-05
- 发明人: 赵东光 , 施森华 , 王同信
- 申请人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
- 专利权人: 武汉新芯集成电路制造有限公司
- 当前专利权人: 武汉新芯集成电路股份有限公司
- 当前专利权人地址: 430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号
- 代理机构: 上海思微知识产权代理事务所
- 代理商 曹廷廷
- 主分类号: H01L27/146
- IPC分类号: H01L27/146
摘要:
本发明提供了一种半导体器件及其制造方法,所述半导体器件的制造方法包括:提供具有导电类型为N型或P型的掺杂区的衬底;形成至少一个浅沟槽隔离结构,以在所述掺杂区中定义出相互隔离的感光区和读取区;以及,对所述读取区进行反型离子掺杂,所述反型离子掺杂的深度大于或等于所述浅沟槽隔离结构的深度,以使得所述读取区的导电类型与所述掺杂区的读取区之外的区域的导电类型相反,当所述掺杂区的读取区之外的区域的导电类型为N型时,所述读取区的导电类型为P型;当所述掺杂区的读取区之外的区域的导电类型为P型时,所述读取区的导电类型为N型。本发明的技术方案使得相邻感光区之间以及感光区和读取区之间的相互串扰问题得到改善。
公开/授权文献
- CN110444555A 半导体器件及其制造方法 公开/授权日:2019-11-12
IPC分类: