发明授权
- 专利标题: 一种可控硅芯片及其制造方法
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申请号: CN201910679982.4申请日: 2019-07-26
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公开(公告)号: CN110444596B公开(公告)日: 2023-06-20
- 发明人: 黄富强 , 李晓锋
- 申请人: 浙江里阳半导体有限公司
- 申请人地址: 浙江省玉环市芦浦镇漩门工业区
- 专利权人: 浙江里阳半导体有限公司
- 当前专利权人: 浙江里阳半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省玉环市芦浦镇漩门工业区
- 代理机构: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司
- 代理商 郭燕; 彭愿洁
- 主分类号: H01L29/74
- IPC分类号: H01L29/74 ; H01L29/06 ; H01L21/332
摘要:
一种可控硅芯片及其制造方法,包括在长基区一侧设有阳极发射区并形成第一PN结,在长基区另一侧设有短基区并形成第二PN结,在短基区上还设有阴极发射区并形成第三PN结,隔离墙,形成于阳极发射区、长基区和短基区的周边,并与阳极发射区掺有同种杂质,所述隔离墙上通过干法刻蚀开设有第一沟槽,所述第一沟槽为窄深槽,电压槽,其形成于隔离墙和短基区之间,用于阻断隔离墙和短基区的电气连接。通过干法刻蚀在可控硅芯片上应用,可快速与材料进行反应,刻蚀去除得到一窄深槽,形成窄深槽产生的应力小,窄深槽槽宽的横向距离少,减少台面的损失距离,窄深槽极大减少扩散深度,进而减少扩散形成隔离墙的时间,降低产品的失效应力,提高产品的可靠性。
公开/授权文献
- CN110444596A 一种可控硅芯片及其制造方法 公开/授权日:2019-11-12
IPC分类: