一种可控硅芯片及其制造方法
摘要:
一种可控硅芯片及其制造方法,包括在长基区一侧设有阳极发射区并形成第一PN结,在长基区另一侧设有短基区并形成第二PN结,在短基区上还设有阴极发射区并形成第三PN结,隔离墙,形成于阳极发射区、长基区和短基区的周边,并与阳极发射区掺有同种杂质,所述隔离墙上通过干法刻蚀开设有第一沟槽,所述第一沟槽为窄深槽,电压槽,其形成于隔离墙和短基区之间,用于阻断隔离墙和短基区的电气连接。通过干法刻蚀在可控硅芯片上应用,可快速与材料进行反应,刻蚀去除得到一窄深槽,形成窄深槽产生的应力小,窄深槽槽宽的横向距离少,减少台面的损失距离,窄深槽极大减少扩散深度,进而减少扩散形成隔离墙的时间,降低产品的失效应力,提高产品的可靠性。
公开/授权文献
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件(使用半导体器件的测量入G01;一般电阻器入H01C;磁体、电感器、变压器入H01F;一般电容器入H01G;电解型器件入H01G9/00;电池组、蓄电池入H01M;波导管、谐振器或波导型线路入H01P;线路连接器、汇流器入H01R;受激发射器件入H01S;机电谐振器入H03H;扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R;一般电光源入H05B;印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K;在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类)
H01L29/00 专门适用于整流、放大、振荡或切换,并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的半导体器件;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒,例如PN结耗尽层或载流子集结层的电容器或电阻器;半导体本体或其电极的零部件(H01L31/00至H01L47/00,H01L51/05优先;除半导体或其电极之外的零部件入H01L23/00;由在一个共用衬底内或其上形成的多个固态组件组成的器件入H01L27/00)
H01L29/66 .按半导体器件的类型区分的
H01L29/68 ..只能通过对一个不通有待整流、放大或切换的电流的电极供给电流或施加电位方可进行控制的(H01L29/96优先)
H01L29/70 ...双极器件
H01L29/74 ....晶闸管型器件,如具有四区再生作用的
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