Invention Grant
- Patent Title: 一种X射线成像检测系统
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Application No.: CN201910756397.XApplication Date: 2019-08-16
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Publication No.: CN110487224BPublication Date: 2020-08-11
- Inventor: 张超
- Applicant: 俐玛精密测量技术(苏州)有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市吴中区甪直镇产业路以西汇凯路以南
- Assignee: 俐玛精密测量技术(苏州)有限公司
- Current Assignee: 俐玛精密测量技术(苏州)有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市吴中区甪直镇产业路以西汇凯路以南
- Agency: 北京精金石知识产权代理有限公司
- Agent 张黎
- Main IPC: G01B15/00
- IPC: G01B15/00
Abstract:
本发明属于图像检测系统技术领域,具体涉及一种X射线成像检测系统。该检测系统包括X射线发射组件、X射线接收组件,所述X射线发射组件包括X射线源,所述X射线接收组件包括X射线接收器,所述X射线源所发出的X射线垂直向下照射并由所述X射线接收器接收,还包括设于所述X射线发射组件和X射线接收组件之间的转动机构,所述转动机构包括第一基板、第一丝杆、第二丝杆、第一电机、第二电机、第三电机和第一联轴器,所述第一基板上设有转轴,所述第一联轴器与所述转轴连接。本发明提供的X射线成像检测系统可以实现产品内部结构及尺寸的检测;而且可以在检测过程中位置及角度的变化,从而实现工件的多角度检测。
Public/Granted literature
- CN110487224A 一种X射线成像检测系统 Public/Granted day:2019-11-22
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