- 专利标题: 一种用于显微CT系统位姿校正的标准器及实现方法
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申请号: CN201910817975.6申请日: 2019-08-30
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公开(公告)号: CN110501360B公开(公告)日: 2022-01-07
- 发明人: 胡晓东 , 沙桐桐 , 邹晶 , 韩振烨 , 夏小琴
- 申请人: 天津大学
- 申请人地址: 天津市南开区卫津路92号
- 专利权人: 天津大学
- 当前专利权人: 天津大学
- 当前专利权人地址: 天津市南开区卫津路92号
- 代理机构: 天津市北洋有限责任专利代理事务所
- 代理商 程毓英
- 主分类号: G01N23/046
- IPC分类号: G01N23/046
摘要:
本发明涉及一种用于显微CT系统位姿校正的标准器,为AB双面球板,A面平行于B面,共有14个球固定于A面或B面,标准器A面球分布为九宫格结构,第一行球球心分别记为Q1、R1、Q2,第二行球球心分别记为P1、W、P2,第三行球球心分别记为Q3、R2、Q4,A面九宫格中心球为W;标准器B面球均匀分布为十字型结构,横向球球心分别记为P3、M、P4,纵向球球心分别记为R3、M、R4,球距Q1Q2=Q3Q4=P1P2=P3P4=Q1Q3=Q2Q4=R1R2=R3R4=l,球距P1P3=P2P4=R1R3=R2R4=WM=r。本发明同时提供一种采用所述的标准球实现的显微CT系统位姿校正方法,其特征在于,所述显微CT系统为射线源、精密样品转台、探测器构成,所述位姿校正针对探测器偏转摇摆角θ、俯仰角φ、旋转角η和射线源至样品、探测器的距离dSW、dSO参数。
公开/授权文献
- CN110501360A 一种用于显微CT系统位姿校正的标准器及实现方法 公开/授权日:2019-11-26