本发明公开了基于结构光测量的涂胶信息检测方法，包括：1)对胶条轮廓结构光图像进行图像处理，分割底部直线段，进行拟合，得到底部基准线；2)计算底部基准线与光平面坐标系x轴的夹角θ，将胶条轮廓旋转‑θ度；剔除底部直线段，在剩余的轮廓点组成的胶形轮廓段中计算胶高特征点、胶宽特征点；3)得到的多个胶高特征点，并计算法线；根据法线，构造平面I，选取预设帧图像，将预设帧图像中胶高特征点、胶宽特征点投影到平面I；利用胶高特征点计算胶高；将胶宽特征点之间的距离记为胶宽；4)对于涂胶轨迹中其他待测位置，重复步骤1)～3)，完成整个涂胶轨迹中胶条信息的检测；本方法对角度偏差进行校正，能够准确获取涂胶三维轮廓信息。