- 专利标题: 一种应用于高温高速等离子体内部磁场分布测量的耐高温磁场探针
- 专利标题(英): High-temperature-resistant magnetic field probe for measuring internal magnetic field distribution of high-temperature and high-speed plasma
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申请号: CN201910659211.9申请日: 2019-07-22
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公开(公告)号: CN110568386A公开(公告)日: 2019-12-13
- 发明人: 李小平 , 赵成伟 , 刘彦明 , 孙超 , 刘东林 , 韩明智 , 窦超
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 代理机构: 西安长和专利代理有限公司
- 代理商 何畏
- 主分类号: G01R33/10
- IPC分类号: G01R33/10
摘要:
本发明属于等离子体检测技术领域,公开了一种应用于高温高速等离子体内部磁场分布测量的耐高温磁场探针。磁场探针,用于接收空间磁场信号及高温高速等离子体内部磁场信号;支撑固定座,用于固定磁场探针的陶瓷介质及同轴接头的安装固定,保护磁场探针免受高速流动的等离子体的冲击破坏;同轴接头,用于向磁场探针传输信号。本发明解决了常规探针不能适应高温的问题,探针为共面波导形式,并且探针被耐高温陶瓷材料包覆,使得探针具有耐高温性能。探针采用双环结构,解决了单环不平衡结构造成的测量结果不对称的问题,并且展宽了频带范围。同时由于磁场探针是蚀刻在介电常数为4.2的介质基板上的,缩小为传统探针尺寸的 倍,提高了探针灵敏度。
公开/授权文献
- CN110568386B 高温高速等离子体内部磁场分布测量的耐高温磁场探针 公开/授权日:2022-01-25