Invention Grant
- Patent Title: 基于惠斯通桥型智能微流控芯片的痕量Pb2+检测方法
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Application No.: CN201910974870.1Application Date: 2019-10-14
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Publication No.: CN110595949BPublication Date: 2021-02-19
- Inventor: 彭减 , 汪伟 , 褚良银 , 林硕 , 赵宁 , 苏瑶瑶 , 谢锐 , 巨晓洁 , 刘壮
- Applicant: 四川大川精密科技有限公司
- Applicant Address: 四川省成都市高新区天府五街200号3号楼B区8楼
- Assignee: 四川大川精密科技有限公司
- Current Assignee: 四川大川精密科技有限公司
- Current Assignee Address: 四川省成都市高新区天府五街200号3号楼B区8楼
- Agency: 北京中济纬天专利代理有限公司
- Agent 郭萍
- Main IPC: G01N11/00
- IPC: G01N11/00 ; B01L3/00

Abstract:
本发明提供了一种基于惠斯通桥型智能微流控芯片的痕量Pb2+检测方法,将智能微流控芯片置于热台上,将智能微流控芯片的进样口、指示液进口分别通过管件与恒流输送装置连接,检测步骤如下:①对空白试样进行检测,待智能微流控芯片中指示液的界面稳定后,测量第一桥臂微通道进口处的指示液宽度;②对标样进行检测,确定Pb2+浓度与指示液宽度变化率之间的换算关系;③对待测试样进行检测,计算待测试样中Pb2+浓度。该方法将Pb2+浓度信号进行了多重转换和双重放大,实现了对痕量Pb2+的超灵敏定量检测,有效降低Pb2+的检出限。
Public/Granted literature
- CN110595949A 基于惠斯通桥型智能微流控芯片的痕量Pb2+检测方法 Public/Granted day:2019-12-20
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