发明公开
- 专利标题: 一种O形密封圈多因子老化试验平台和老化试验方法
- 专利标题(英): Multi-factor aging test platform of O-shaped sealing ring and aging test method
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申请号: CN201911056970.2申请日: 2019-10-31
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公开(公告)号: CN110608995A公开(公告)日: 2019-12-24
- 发明人: 张智敏 , 郝艳捧 , 彭家豪 , 阳林 , 高超 , 周福升 , 王国利 , 李立浧
- 申请人: 华南理工大学 , 南方电网科学研究院有限责任公司
- 申请人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 专利权人: 华南理工大学,南方电网科学研究院有限责任公司
- 当前专利权人: 华南理工大学,南方电网科学研究院有限责任公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市天河区五山路381号
- 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
- 代理商 何淑珍; 隆翔鹰
- 主分类号: G01N17/00
- IPC分类号: G01N17/00
摘要:
本发明公开了一种O形密封圈多因子老化试验平台及老化试验方法,所述老化试验平台包括老化罐、与老化罐配套使用的智能老化箱和超温保护器;老化罐包括至少1个法兰组、底座和顶盖,法兰组内设置有安装O形密封圈的密封槽,智能老化箱包括箱体、电源开关、升温系统、盐雾系统、鼓风系统和控制系统;超温保护器包括与之相连的测温探头,超温保护器位于智能老化箱与外接电源之间。本试验平台结构简单、运行安全,可在热、挤压、被密封气体、湿、盐、表面涂覆物等多因子条件下,同时对多个O形密封圈进行老化,老化后可以在不分离O形密封圈和法兰的情况下测量O形密封圈的泄漏率,对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。