发明授权
- 专利标题: 一种测试光路以及QKD系统
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申请号: CN201811457468.8申请日: 2018-11-30
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公开(公告)号: CN110620612B公开(公告)日: 2023-06-20
- 发明人: 王立伟 , 许穆岚 , 代云启
- 申请人: 科大国盾量子技术股份有限公司
- 申请人地址: 安徽省合肥市高新区望江西路800号合肥创新产业园D3楼
- 专利权人: 科大国盾量子技术股份有限公司
- 当前专利权人: 科大国盾量子技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市高新区望江西路800号合肥创新产业园D3楼
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 姚璐华; 王宝筠
- 主分类号: H04B10/079
- IPC分类号: H04B10/079 ; H04B10/70 ; H04L9/08
摘要:
本发明公开了一种测试光路以及QKD系统,通过第一光功率分束器获取源端编码光路出射的光信号,可以将该光信号按照设定分束比分为两路,其两个输出端口分别输出一路光信号,可以实现光信号的衰减,可以通过其第一输出端口为后续光路提供衰减后的一路弱光信号,其第二输出端口输出的一路光信号用于对输入的光信号进行光参数测量,完成对光路的检测、测试以及标定,通过第一光功率分束器在实现光信号衰减的同时,还可以对光路进行检测、测试以及标定,无需采用多个不同光路模块实现各个不同功能,测试光路的结构简单。
公开/授权文献
- CN110620612A 一种测试光路以及QKD系统 公开/授权日:2019-12-27