发明公开
- 专利标题: 一种叶片凸台缺陷原位检测方法
- 专利标题(英): Method for in-situ detection of blade boss defect
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申请号: CN201910895886.3申请日: 2019-09-21
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公开(公告)号: CN110646506A公开(公告)日: 2020-01-03
- 发明人: 帅家盛
- 申请人: 北京嘉盛智检科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路1号院3号楼1层A110室
- 专利权人: 北京嘉盛智检科技有限公司
- 当前专利权人: 北京嘉盛智检科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥东路1号院3号楼1层A110室
- 主分类号: G01N27/90
- IPC分类号: G01N27/90
摘要:
本发明涉及一种叶片凸台缺陷原位检测方法,其包括以下步骤:S1,将卡接有涡流传感器的探头卡接至叶片凸台待检测区域,随后向涡流传感器通电,使叶片内产生感应电流,并采集涡流传感器的感应信号,观察与涡流传感器相连接的显示屏;S2,对采集到的感应信号进行调零;S3,利用处理软件将调零后的感应信号进行放大;S4,设置阈值线,并将放大后的感应信号与阈值线进行对比,并用不同于阈值线的颜色线段表示对比结果;S5,重复上述步骤,并根据对比结果与阈值线的分步判断是否存在缺陷。本发明具有够使工作人员直观了解到叶片是否存在缺陷,提高检测精度的效果。
公开/授权文献
- CN110646506B 一种叶片凸台缺陷原位检测方法 公开/授权日:2023-04-07