发明公开
- 专利标题: 一种探测弧面板逐层分布式探测方法
- 专利标题(英): Layer-by-layer distributed detection method for detection arc panels
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申请号: CN201911021527.1申请日: 2019-10-25
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公开(公告)号: CN110672071A公开(公告)日: 2020-01-10
- 发明人: 安庆 , 柳立生 , 欧阳玉华 , 王金玲
- 申请人: 武昌理工学院
- 申请人地址: 湖北省武汉市江夏区武汉市武昌江夏大道16号
- 专利权人: 武昌理工学院
- 当前专利权人: 武昌理工学院
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市江夏区武汉市武昌江夏大道16号
- 代理机构: 北京劲创知识产权代理事务所
- 代理商 王志敏
- 主分类号: G01C11/00
- IPC分类号: G01C11/00
摘要:
本发明提供一种探测弧面板逐层分布式探测方法,涉及探测测绘技术领域,包括以下步骤S1:获取至少一个半球型探测弧面板,保证所有半球型探测弧面板的半径值呈等差数列排列;S2:在所有半球型探测弧面板的内侧面放置探测单元;S3:对半球型探测弧面板依次进行编号;S4:将所有半球型探测弧面板的底端中心点重叠放置至转向板上;S5:调节转向板,对准探测目标;S6:获取每一个半球型探测弧面板的探测数据差值,分析得到探测结果。本发明一种探测弧面板逐层分布式探测方法,调节方便,通过逐层弧面板相互遮蔽,相邻两片遮蔽区域差值相同,消除干扰值,对准探测目标获取探测目标信息,探测精确度高。
公开/授权文献
- CN110672071B 一种探测弧面板逐层分布式探测方法 公开/授权日:2021-05-04