- 专利标题: 阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置
- 专利标题(英): Potential fault excitation and detection method for array substrate, display panel and display device
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申请号: CN201911063446.8申请日: 2019-10-31
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公开(公告)号: CN110728937A公开(公告)日: 2020-01-24
- 发明人: 李广耀 , 王东方 , 汪军 , 王海涛 , 王庆贺 , 倪柳松 , 黄先纯 , 胡洋 , 陈皖青 , 周超
- 申请人: 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,合肥鑫晟光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区酒仙桥路10号
- 代理机构: 北京市立方律师事务所
- 代理商 张筱宁
- 主分类号: G09G3/00
- IPC分类号: G09G3/00 ; G09G3/3266
摘要:
本申请实施例提供了一种阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置。阵列基板包括栅极驱动区域,栅极驱动区域设置有栅极驱动电路,栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存单元,移位寄存单元包括第一检测点、第二检测点以及连接在第一检测点和第二检测点之间的子电路。本实施例的故障激发方法包括:在预设时长内,将第一检测点与第二检测点之间的压差设置为预定压差,若子电路不存在潜在故障,则子电路不导通,若子电路存在潜在故障,则潜在故障在预定压差的作用下被激发为实际故障。本实施例能够避免存在潜在故障的阵列基板进入后续制程,以降低生产成本并提高良品率;并能够避免施加在两个检测点之间的电压对阵列基板产生破坏。
公开/授权文献
- CN110728937B 阵列基板潜在故障激发及检测方法、显示面板及显示装置 公开/授权日:2022-01-21