发明公开
- 专利标题: 一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质
- 专利标题(英): Interface test method and device, electronic equipment and storage medium
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申请号: CN201810801940.9申请日: 2018-07-20
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公开(公告)号: CN110737575A公开(公告)日: 2020-01-31
- 发明人: 孙鹏
- 申请人: 北京金山云网络技术有限公司 , 北京金山云科技有限公司 , 北京金迅瑞博网络技术有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区小营西路33号3F02室
- 专利权人: 北京金山云网络技术有限公司,北京金山云科技有限公司,北京金迅瑞博网络技术有限公司
- 当前专利权人: 北京金山云网络技术有限公司,北京金山云科技有限公司,北京金迅瑞博网络技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区小营西路33号3F02室
- 代理机构: 北京柏杉松知识产权代理事务所
- 代理商 马敬; 项京
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36
摘要:
本发明实施例提供了一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括:在多个待测试接口中确定第一目标接口;调用所述第一目标接口,对第一数据对象进行处理;基于预设的接口转换信息,在所述多个待测试接口中选取一接口作为第二目标接口,其中,所述第二目标接口为所述第一目标接口的下一个目标接口;所述接口转换信息描述了所述多个待测试接口中各个待测试接口之间的调用组合关系;调用所述第二目标接口,对所述第一数据对象进行处理。应用本发明实施例中预设的接口转换信息,来确定多个待测试接口的调用顺序,能够自动完成测试用例的搭建及接口测试,能够减小人力及测试时间。
公开/授权文献
- CN110737575B 一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 公开/授权日:2023-09-01