- 专利标题: X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统
- 专利标题(英): X-ray source cathode detection method, X-ray source cathode detection system and X-ray imaging system
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申请号: CN201911050792.2申请日: 2019-10-31
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公开(公告)号: CN110831310A公开(公告)日: 2020-02-21
- 发明人: 唐华平 , 李科 , 董超 , 秦占峰 , 张庆辉
- 申请人: 新鸿电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省常州市金坛区华城中路1668号国际工业城6号楼
- 专利权人: 新鸿电子有限公司
- 当前专利权人: 新鸿电子有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省常州市金坛区华城中路1668号国际工业城6号楼
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 张启程
- 主分类号: H05G1/26
- IPC分类号: H05G1/26 ; H05G1/54
摘要:
本发明提供了一种X射线源阴极检测方法、检测系统及其使用该检测系统的X射线成像系统,该方法包括以下步骤:检测X射线源阴极的工作状况并获得相应的工作参数;获得X射线源阴极的老化曲线数据,其中,所述老化曲线数据包括环境参数和/或阴极型号参数、批次参数;根据获得的工作参数和对应的老化曲线数据进行计算;以及根据计算的结果获得检测结果,所述检测结果包括阴极的剩余使用寿命和/或故障概率;根据所述计算结果,生成阴极使用列表,在发现高故障概率的情况下,调整阴极使用列表以从所述阴极使用列表中移除高故障概率的阴极。
公开/授权文献
- CN110831310B X射线源阴极检测方法、检测系统及X射线成像系统 公开/授权日:2021-12-07