Invention Publication
- Patent Title: 一种复合绝缘子内部粘接缺陷的检测方法和系统
- Patent Title (English): Detection method and system for detecting bonding defects inside composite insulator
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Application No.: CN201911119177.2Application Date: 2019-11-15
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Publication No.: CN110849884APublication Date: 2020-02-28
- Inventor: 郭晨鋆 , 涂彦昕 , 舒越 , 刘立帅 , 龚泽威一 , 王黎明 , 马显龙 , 梅红伟 , 段雨廷 , 曹占国
- Applicant: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- Applicant Address: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- Assignee: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- Current Assignee: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
- Current Assignee Address: 云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号
- Agency: 北京弘权知识产权代理事务所
- Agent 逯长明; 许伟群
- Main IPC: G01N21/88
- IPC: G01N21/88 ; G01N21/47 ; G06T7/00 ; G06T7/181

Abstract:
本发明公开了一种复合绝缘子内部粘接缺陷的检测方法和系统,通过激光阵列设备、热激励光源设备、成像设备获取被检测复合绝缘子的可见光图像、第一散斑图像和第二散斑图像,通过数据处理设备对第一散斑图像和第二散斑图像进行运算处理,得到干涉条纹图和相位图,再进行高斯滤波处理,绘制边缘图像与可见光图像融合,得到融合图像,识别复合绝缘子内部缺陷。本发明实现对复合绝缘子内部粘接缺陷快速、精确、无接触、直观的检测,对复合绝缘子内部微小的粘接缺陷也具有良好的检测效果,实现高效精准地检测复合绝缘子内部粘接缺陷的目的,本发明操作简单,成像直观,受检测人员的操作主观因素的影响较小,能有效保障检测的客观性和科学性。
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