一种利用聚焦离子束进行切割制备非均质材料透射样品的方法，本发明涉及制备非均质材料透射样品的方法。本发明要解决现有方法制备的透射样品位置随机性强，不适用于特定区域的透射样品制备的问题。方法：一、待检测区域的选取与保护；二、非均质材料透射试样粗切；三、非均质材料透射试样细切；四、非均质材料透射试样凹形细切；五、非均质材料透射试样样品提取与固定；六、非均质材料透射试样样品精修，即完成利用聚焦离子束进行切割制备非均质材料透射样品的方法。