本发明涉及集成电路测试技术领域，且公开了一种集成电路测试分选机的分粒机构，包括电路流道，电路流道的上端固定连接有固定框，固定框呈倒“U”型设置，固定框的下端中心处固定连接有固定块，固定块的下端铰接有伸缩装置，伸缩装置的两端对称铰接有分选装置，固定框的下端安装有动力装置；分选装置包括滑筒、滑杆和分选块，两个滑筒对称铰接在伸缩装置的两端，滑筒的开口向上设置，滑杆滑动连接在滑筒内，滑杆远离滑筒内筒底的一端穿过滑筒的筒口并向上延伸，且固定连接在固定框内的对应位置上。该集成电路测试分选机的分粒机构，使得分选块和电路流道之间是直上直下，分选块不会卡电路流道中。