Invention Grant
- Patent Title: 环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法
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Application No.: CN201911305777.8Application Date: 2019-12-17
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Publication No.: CN110988967BPublication Date: 2021-10-26
- Inventor: 董翀 , 卢亚鑫 , 沈杨 , 王海文
- Applicant: 北京中科核安科技有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区高里掌路1号院15号楼2层2单元201
- Assignee: 北京中科核安科技有限公司
- Current Assignee: 北京中科核安科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区高里掌路1号院15号楼2层2单元201
- Agency: 北京超凡宏宇专利代理事务所
- Agent 董艳芳
- Main IPC: G01T1/208
- IPC: G01T1/208 ; G01T1/202

Abstract:
本发明提供了一种环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法,该方法包括:获取环境X、γ辐射探测器的预设光电倍增管电压和与所述光电倍增管电压对应的计数率;对所述光电倍增管电压和计数率所述进行拟合处理,得到所述计数率和所述光电倍增管电压的拟合关系;根据所述计数率和所述拟合关系,得到响应系数、光电倍增管电压和所述探测器的剂量率之间的对应关系,根据所述对应关系对所述探测器的现有量程进行扩展,得到所述环境X、γ辐射探测器的多个剂量率量程。本发明可以有效提高环境X、γ辐射探测器的测量范围。
Public/Granted literature
- CN110988967A 环境X、γ辐射探测器剂量率量程的扩展方法 Public/Granted day:2020-04-10
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