- 专利标题: 辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法
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申请号: CN201911173128.7申请日: 2019-11-26
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公开(公告)号: CN111010242B公开(公告)日: 2022-03-11
- 发明人: 魏延全 , 吴学文 , 齐昊 , 廖建明 , 邓建坤 , 罗彪 , 彭静
- 申请人: 深圳市钛和巴伦技术股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区
- 专利权人: 深圳市钛和巴伦技术股份有限公司
- 当前专利权人: 深圳市钛和巴伦技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区
- 代理机构: 南京灿烂知识产权代理有限公司
- 代理商 朱经艳
- 主分类号: H04B17/10
- IPC分类号: H04B17/10 ; H04B17/20
摘要:
本发明涉及一种辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法。辐射杂散测试设备,用于测试终端设备的辐射杂散数据,设备包括:电波暗室,包括暗室本体以及内置在暗室本体内的旋转组件和多个接收天线,终端设备位于旋转组件上,旋转组件用于驱动终端设备进行旋转,每个接收天线用于接收终端设备在不同旋转角下发射的预设频段的射频信号;射频开关模块,分别与多个接收天线连接,用于选择导通任一接收天线所在的射频通路;频谱仪,与射频开关模块连接,用于对多个接收天线接收的多个射频信号进行频谱分析以获取终端设备的辐射杂散数据,可以测得终端设备在360度全方向的辐射杂散数据,可以实现快速测试,其测试成本低。
公开/授权文献
- CN111010242A 辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法 公开/授权日:2020-04-14