- 专利标题： 用于电子器件的测试设备的接合元件及相应的制造方法
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申请号： CN201880058238.6申请日： 2018-08-29
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公开(公告)号： CN111051897B公开(公告)日： 2023-01-24
- 发明人: 罗伯特·克里帕 , 里卡尔多·维托里
- 申请人： 泰克诺探头公司
- 申请人地址： 意大利莱科
- 专利权人： 泰克诺探头公司
- 当前专利权人： 泰克诺探头公司
- 当前专利权人地址： 意大利莱科
- 代理机构： 北京商专永信知识产权代理事务所
- 代理商 方挺; 黄谦
- 优先权： 102017000100522 20170907 IT
- 国际申请： PCT/EP2018/073187 2018.08.29
- 国际公布： WO2019/048299 EN 2019.03.14
- 进入国家日期： 2020-03-06
- 主分类号： G01R1/073
- IPC分类号： G01R1/073 ; G01R1/067 ; G01R3/00
摘要：
一种用于电子器件的测试设备的接合元件(20)，包括设置有多个贯通开口(22)的至少一个支撑件(21)，所述多个贯通开口(22)容纳有各自的互连元件(23)，所述互连元件(23)在第一端(23a)和第二端(23b)之间延伸。适当地，所述互连元件(23)由填充所述支撑件(21)的所述开口(22)的导电弹性体制成，各个互连元件(23)在所述支撑件(21)的不同且相对的面(Fa，Fb)之间形成导电通道。
公开/授权文献
- CN111051897A 用于电子器件的测试设备的接合元件及相应的制造方法 公开/授权日：2020-04-21
