本发明提出了一种用于直流套管密封圈模拟测试的装置，包括：套管，其上端开设有插孔，插孔的内侧壁上卡设有密封圈；导电杆，穿设在插孔内，并与密封圈接触；驱动单元，设置在插孔的正上方，与导电杆连接，以驱动导电杆沿插孔的中轴线方向、在插孔内往复运动；加热棒，其插设在导电杆内，加热棒用于调节导电杆的温度。通过设置套管、导电杆和驱动单元，通过驱动单元带动导电杆在套管上的插孔内往复运动，通过设置在导电杆内部的加热棒调节导电杆的工作温度，从而能够更加真实地模拟出套管、导电杆以及密封圈的实际运行工况，使得模拟测试结果更加客观真实，能够更加准确的反映出密封圈老化速率，从而能够准确的获知密封圈的使用寿命。