Invention Grant
- Patent Title: 一种适用于SKA天线的主面面型测量调整方法及装置
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Application No.: CN201811393357.5Application Date: 2018-11-21
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Publication No.: CN111211424BPublication Date: 2021-02-23
- Inventor: 孟艳艳
- Applicant: 孟艳艳
- Applicant Address: 河南省郑州市二七区陇海中路66号
- Assignee: 孟艳艳
- Current Assignee: 孟艳艳
- Current Assignee Address: 河南省郑州市二七区陇海中路66号
- Agency: 郑州睿信知识产权代理有限公司
- Agent 崔旭东
- Main IPC: H01Q15/14
- IPC: H01Q15/14 ; H01Q15/16
Abstract:
本发明涉及一种适用于SKA天线的主面面型测量调整方法及装置,该方法包括:在主面的外侧下方预留设计坐标已知的基准点,在主面的每块三角形面板上布设测量点;根据基准点和测量点的三维坐标,计算所有三角形面板上测量点在设计坐标系下的坐标;若主面的面型精度不满足要求,则进行以下调整:分别计算将三角形面板上所有测量点与主面设计曲面做最小二乘拟合前后每块三角形面板的3个调整点到主面设计曲面的法向偏差Va和Vb,将每块三角形面板的3个调整点按照向量Vb‑Va调整螺栓高度;迭代地进行面型精度判别和调整步骤,直至面型精度满足要求。本发明可避免单个调整点偏差对面型精度的影响,使面板上所有测量点的偏差值最小,以达到最优调整。
Public/Granted literature
- CN111211424A 一种适用于SKA天线的主面面型测量调整方法及装置 Public/Granted day:2020-05-29
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