Invention Grant
- Patent Title: 一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法
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Application No.: CN202010097476.7Application Date: 2020-02-17
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Publication No.: CN111238672BPublication Date: 2021-10-08
- Inventor: 谭亚雄 , 周湶 , 潘家骏 , 李剑 , 陈伟根 , 王有元 , 杜林 , 王飞鹏 , 黄正勇 , 万福
- Applicant: 重庆大学
- Applicant Address: 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- Assignee: 重庆大学
- Current Assignee: 重庆大学
- Current Assignee Address: 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- Agency: 北京智绘未来专利代理事务所
- Agent 张红莲
- Main IPC: G01K7/18
- IPC: G01K7/18 ; G01K15/00 ; G01R33/07

Abstract:
本申请公开了一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法,包括以下步骤:搭建通流平台,使超导带材产生自发磁场;配置温度传感器,采集超导带材的热分布场;配置低温扫描霍尔探针,检测超导带材的磁场分布;实时获取与分析热分布场与磁场分布信号,得到超导带材的动态温度分布。本发明在超导带材上采用多布点温度传感器来实现对其温度的分布测量,利用低温扫描霍尔探针检测磁场分布的异常变化,捕捉超导带材失超点。通流的同时利用低温扫描霍尔探针测量自发磁场值,在超导带材失超时,通过温度异常变化与磁场异常变化的时间找到迟滞时间,从而实现时间尺度上的校准,最终得到实际的可定位的超导带材动态温度分布,误差小,效率高。
Public/Granted literature
- CN111238672A 一种基于磁显微法的超导带材动态温度测量方法 Public/Granted day:2020-06-05
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