发明公开
- 专利标题: 一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法
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申请号: CN202010220514.3申请日: 2020-03-25
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公开(公告)号: CN111289550A公开(公告)日: 2020-06-16
- 发明人: 徐建平 , 李新家 , 陈胜 , 吴超超 , 周双清 , 邢文青
- 申请人: 武汉科技大学 , 湖南华菱涟源钢铁有限公司 , 大冶特殊钢有限公司 , 广东韶钢松山股份有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市青山区和平大道947号
- 专利权人: 武汉科技大学,湖南华菱涟源钢铁有限公司,大冶特殊钢有限公司,广东韶钢松山股份有限公司
- 当前专利权人: 武汉科技大学,湖南华菱涟源钢铁有限公司,大冶特殊钢有限公司,广东韶钢松山股份有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市青山区和平大道947号
- 代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 张火春
- 主分类号: G01N23/2202
- IPC分类号: G01N23/2202 ; G01N23/223
摘要:
本发明涉及一种XRFS分析用样片的试样粉末布置方法。其技术方案是:将圆形纸巾用胶水粘贴在布置管的下端面,封住端口,得到纸底布置管。所述布置管是由内径相同的短管和圆环组成的同轴线整体,布置管高度H1=15~20mm,圆环高度H2=1mm,布置管下端的圆环端口均匀地开有24个相同的“凹”形口。将1.0~2.0g的硼酸置于XRFS分析用粉末压片机料仓中的下压头上,将纸底布置管装入XRFS分析用粉末压片机的装料仓中,再将0.5~1.5g的待压试样粉末从纸底布置管的上端加入,用样勺将待压试样粉末覆盖纸底布置管的纸底,用压杆从纸底布置管上端将试样粉末压住,取出布置管和压杆即可。本发明具有布样速度快、能耗低和样片分析层厚度均匀的特点。