- 专利标题: 相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质
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申请号: CN202010087760.6申请日: 2020-02-12
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公开(公告)号: CN111309865B公开(公告)日: 2024-03-22
- 发明人: 李斌 , 余笙 , 孙小兵
- 申请人: 扬州大学
- 申请人地址: 江苏省扬州市大学路88号
- 专利权人: 扬州大学
- 当前专利权人: 扬州大学
- 当前专利权人地址: 江苏省扬州市大学路88号
- 代理机构: 南京理工大学专利中心
- 代理商 马鲁晋
- 主分类号: G06F16/33
- IPC分类号: G06F16/33 ; G06F16/36 ; G06F16/901 ; G06F16/903
摘要:
本发明公开了一种相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质,方法包括:对新缺陷报告进行预处理,构建该缺陷报告的第一实体集合S1;计算集合S1中每个实体的TF‑IDF值,并按照TF‑IDF值对实体进行降序排列,构建第二实体集合S2;针对集合S2中的每个实体S,结合缺陷知识图谱,查询与新缺陷报告通过实体S相关联的缺陷报告,构建第一缺陷报告集合Buglist1;针对集合Buglist1中的每个关联缺陷报告b,求取其与新缺陷报告的余弦相似度,构建第二缺陷报告集合Buglist2;求取集合Buglist1与Buglist2对应位置元素的相似度值,构建第三缺陷报告集合Buglist3;结合集合Buglist3和缺陷知识图谱,返回新缺陷报告的相似缺陷报告列表。本发明能显著提高相似缺陷报告推荐的准确度。
公开/授权文献
- CN111309865A 相似缺陷报告推荐方法、系统、计算机设备和存储介质 公开/授权日:2020-06-19