本发明公开了一种RTK轴线放样测量方法，包括以下步骤：获取控制线上两个控制点的平面坐标，获取控制点之间的坐标距离和方位角；获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。该放样测量方法可以准确快速定位，大大提升RTK直线放样测量的适用范围和能力，从而满足具备直线或大半径短小曲线段这种特殊结构建筑物的放样测量需要。