本发明涉及一种测试钝化接触结构的接触电阻率的方法，包括：(1)、沿电池片上平行于副栅线的方向，对紧挨着副栅线两侧的钝化接触结构均进行开槽，形成凹槽结构；凹槽结构纵向延伸至硅衬底的内部；(2)、沿电池片上平行于主栅线方向，在含有凹槽结构的区域进行切割，得到测试样品；其中，测试样品中未包含主栅线；(3)、测试测试样品上不同副栅线间距对应的电阻值；(4)、以副栅线之间的间距为横坐标，副栅线之间的间距对应的电阻值作为纵坐标，绘制散点图，进行线性拟合，得到线性函数的斜率和截距；根据所述线性函数的斜率和截距，以及线传输模型计算出接触电阻率。