一种电子元件检测方法及检测装置，方法包括以下步骤：待检测的电子元件置于待检测工作台；采集电子元件上表面和下表面的完整图像；分析电子元件的上表面和下表面的完整图像为电子元件的正面还是背面；判断若为正面，调用正面检测程序对其进行质量检测；判断若为背面，调用背面检测程序对其进行质量检测。检测装置包括供料器、透明工作转盘、图像采集设备和检测系统；其中，所述图像采集设备连接所述检测系统，传输图像给检测系统，供料器输出端连接透明工作转盘，将物料排列输送至透明工作转盘；本发明提供了一种送料阶段无需进行正背面设定的质检方法，稼动率提高30％以上。