一种测量方法和设备
摘要:
本发明实施例提供了一种测量方法和设备,该方法包括:向终端配置第一资源和第二资源,其中,第一资源用于终端测量下行波束的参考信号接收功率,第二资源用于终端测量下行波束的干扰。在本发明实施例中,通过配置用于测量下行波束的干扰的资源,测量终端下行波束的L1‑SINR值,从而避免现有的下行波束测量方式仅仅依据L1‑RSRP值,未考虑下行波束受干扰情况。
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