本发明公开了一种红外半导体发光元件散热性能测试方法，属于半导体散热性能测试领域，一种红外半导体发光元件散热性能测试方法，通过多个呈圆周状分布且高度不同的支点测柱以及多光点罩的设置，能在不聚集热量的情况下，对半导体发光元件附近不同距离的环境温升变化进行测量，使得对于半导体发光元件的散热性能的测试结果更加准确，同时随着半导体发光元件不断散发的热量，多光点罩上的多个光点球逐渐被点亮，通过记录多个光点球被点亮的顺序，可以反映半导体发光元件产生的热量向外散发时的运行的大致轨迹，从而在测试后，可以根据散热效果最好的轨迹调整半导体发光元件的安装角度，从而使得本半导体发光元件在使用时，散热性能更佳。