Invention Grant
- Patent Title: 二进制程序漏洞测试方法、装置及可读存储介质
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Application No.: CN202010397145.5Application Date: 2020-05-12
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Publication No.: CN111581106BPublication Date: 2023-05-23
- Inventor: 席泽生 , 张波 , 马媛媛 , 邵志鹏 , 孙歆 , 管小娟 , 周诚 , 陈牧 , 陈璐 , 李尼格 , 戴造建 , 李勇
- Applicant: 全球能源互联网研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网浙江省电力有限公司 , 南京理工大学
- Applicant Address: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; ; ;
- Assignee: 全球能源互联网研究院有限公司,国家电网有限公司,国网浙江省电力有限公司,南京理工大学
- Current Assignee: 全球能源互联网研究院有限公司,国家电网有限公司,国网浙江省电力有限公司,南京理工大学
- Current Assignee Address: 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号; ; ;
- Agency: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- Agent 李博洋
- Main IPC: G06F11/36
- IPC: G06F11/36 ; G06F21/57

Abstract:
本发明公开了一种二进制程序漏洞测试方法、装置及可读存储介质。该方法包括:对目标二进制程序进行插桩处理并生成插桩信息一致的LLVM位码和可执行文件;相互嵌套执行对可执行文件进行模糊测试及对LLVM位码进行符号执行的过程,通过模糊测试,生成测试用例并更新覆盖信息;通过符号执行,搜索程序执行树,当根据覆盖信息发现程序执行中有分支未被覆盖时,生成相应的测试用例并加入到测试用例集合中;通过模糊测试,监控测试用例集合,当有新的测试用例时,读取新的测试用例并加入到模糊测试的测试用例队列中,并基于新的测试用例,继续探索分支后面的分支,生成测试用例并更新覆盖信息;当检测到符合终止条件时,结束漏洞测试过程。
Public/Granted literature
- CN111581106A 二进制程序漏洞测试方法、装置及可读存储介质 Public/Granted day:2020-08-25
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