- 专利标题: 瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路
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申请号: CN202010468963.X申请日: 2020-05-28
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公开(公告)号: CN111707910A公开(公告)日: 2020-09-25
- 发明人: 赵晨龙 , 王黎明 , 杨代铭 , 李晓刚 , 刘祝鸿 , 谢敏 , 文路
- 申请人: 广州广华智电科技有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市黄埔区香雪八路98号F栋401房,F栋403房,F栋408房
- 专利权人: 广州广华智电科技有限公司
- 当前专利权人: 广州广华智电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市黄埔区香雪八路98号F栋401房,F栋403房,F栋408房
- 代理机构: 广州市越秀区哲力专利商标事务所
- 代理商 曾令军
- 主分类号: G01R31/12
- IPC分类号: G01R31/12 ; G01R31/18 ; G01R27/02
摘要:
本发明提供一种瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路,该瓷绝缘子内绝缘检测方法包括:S101:通过冲击电压发生器发送冲击电压,并利用测量回路获取电压变化波形数据;S102:根据电压变化波形数据获取第一电压幅值和第一衰减时间常数以及第二电压幅值和第二衰减时间常数;S103:根据第一衰减时间常数和第二衰减时间常数获取待测瓷绝缘子的绝缘电阻;S104:根据第一电压幅值与第二电压幅值的大小或正常瓷绝缘子的绝缘电阻与待测瓷绝缘子的绝缘电阻的大小判断待测瓷绝缘子是否为劣化瓷绝缘子。本发明准确度高,能够快速检测内绝缘劣化的瓷绝缘子,并且加压时间短,功率小,能量消耗少,判断逻辑简单便于集成,便于检测设备小型化,应用场所广。
公开/授权文献
- CN111707910B 瓷绝缘子内绝缘检测方法以及瓷绝缘子检测电路 公开/授权日:2024-04-19