发明公开
CN111721642A 温度加速度试验系统
审中-实审
- 专利标题: 温度加速度试验系统
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申请号: CN202010573417.2申请日: 2020-06-22
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公开(公告)号: CN111721642A公开(公告)日: 2020-09-29
- 发明人: 赵昊 , 胡凛 , 梁冠成 , 赵振博
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 史治法
- 主分类号: G01N3/18
- IPC分类号: G01N3/18 ; G01N3/04 ; G01K1/02 ; G01K1/08 ; G01K1/14
摘要:
本发明涉及可靠性试验技术领域,公开了一种温度加速度试验系统,包括温度试验箱,用于模拟加速度元器件的环境温度应力;所述温度试验箱包括电连接器,所述电连接器与所述加速度元器件连接,用于使所述加速度元器件处于带电工作状态;加速度试验台,与所述温度试验箱连接,用于模拟所述加速度元器件的环境加速度应力。通过温度试验箱与加速度试验台来同时对加速度元器件进行环境温度应力和环境加速度应力的模拟,试验系统安装有电连接器,可以与试验箱内的所述加速度元器件连接,使其实现带电工作,模拟样品在真实工作状态时,遭受环境温度应力和环境加速度应力后的电信号数据。本系统适用于进行元器件的设计定型、故障激发、可靠性增长等试验。