本发明涉及一种IGBT驱动退饱和保护功能的测试电路和其模拟测试方法，通过在IGBT一直工作在饱和区且IGBT集电极电流在安全电流的情况下，通过一个辅助电子开关把IGBT的母线电压直接接入驱动的电压采样回路，模拟IGBT在安全电流下进入退饱和工作状态，从而验证驱动能否在规定的时间内正确关断IGBT的功能。本发明避免驱动在IGBT为大电流退饱和情况下(此时IGBT端电压进入母线电压)进行保护功能的测试，避免了IGBT在退饱和情况下因为驱动保护不及时造成IGBT过热或过电压损坏的风险。可广泛应用于驱动退饱和功能的常规测试项目。