发明公开
CN111855523A 渗流实验的分析方法及其应用
无效 - 驳回
- 专利标题: 渗流实验的分析方法及其应用
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申请号: CN201910347235.0申请日: 2019-04-26
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公开(公告)号: CN111855523A公开(公告)日: 2020-10-30
- 发明人: 杨培强 , 徐志尧
- 申请人: 上海纽迈电子科技有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼A635-04室
- 专利权人: 上海纽迈电子科技有限公司
- 当前专利权人: 上海纽迈电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路351号2号楼A635-04室
- 代理机构: 北京超凡宏宇专利代理事务所
- 代理商 李双艳
- 主分类号: G01N15/08
- IPC分类号: G01N15/08 ; G01N24/08
摘要:
本发明涉及一种渗流实验的分析方法及其应用。该渗流实验的分析方法包括以下步骤:(a)使用孔隙度定标样品定标,确定核磁共振信号量与孔隙度的函数关系式;(b)向饱和第一流体的待测样品中注入第二流体,注入过程中,在所需时间节点上采集核磁共振信号量;其中,第一流体或第二流体中含有能够被核磁共振仪探测到的探测对象;(c)根据步骤(a)中的函数关系式以及步骤(b)中采集到的核磁共振信号量,计算出待测样品的孔隙度;(d)对步骤(b)中采集到的核磁共振信号量进行数据处理,计算得到所需时间节点的含探测对象流体的流体饱和度。该方法所得待测样品的孔隙度和流体饱和度精确度高,且能对渗流实验过程中流体的动态过程进行监测。