Invention Grant
- Patent Title: 推力测量装置及方法
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Application No.: CN202010479550.1Application Date: 2020-05-29
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Publication No.: CN112050988BPublication Date: 2022-04-19
- Inventor: 罗杨 , 高辉 , 王忠晶 , 季朦
- Applicant: 北京机械设备研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区永定路50号(北京市142信箱208分箱)
- Assignee: 北京机械设备研究所
- Current Assignee: 北京机械设备研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永定路50号(北京市142信箱208分箱)
- Agency: 北京云科知识产权代理事务所
- Agent 张飙
- Main IPC: G01L5/13
- IPC: G01L5/13

Abstract:
本申请揭示了一种推力测量装置及方法,该装置包括:支架组件、刀片悬吊组件、下摆盘、位移传感器组件、数据采集系统和砝码标定系统,刀片悬吊组件悬吊于支架组件上,刀片悬吊组件下端为下摆盘;下摆盘上固定安装有待测推力器,位移传感器组件固定安装于支架组件的侧边且与待测推力器相对设置;数据采集系统采集位移传感器组件获取的待测推力器的位移数据;砝码标定系统与下摆盘连接,通过外挂的砝码带动下摆盘摆动,位移传感器组件获取下摆盘摆动时刀片悬吊组件摆动的位移数据,计算刀片吊臂组件摆动时单位角位移所对应的推力值。本申请通过刀片悬吊组件带动下摆盘上的待测推力器摆动,提高了推力测量台架的动态响应速度。
Public/Granted literature
- CN112050988A 推力测量装置及方法 Public/Granted day:2020-12-08
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