- 专利标题: 一种利用时差与一维方位测量的外辐射源三维定位方法
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申请号: CN202010979777.2申请日: 2020-09-17
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公开(公告)号: CN112083407B公开(公告)日: 2022-03-29
- 发明人: 万群 , 冯欣 , 邢天弈 , 彭一洵 , 丁学科 , 宫健 , 徐保根 , 万义和
- 申请人: 电子科技大学 , 同方电子科技有限公司
- 申请人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号;
- 专利权人: 电子科技大学,同方电子科技有限公司
- 当前专利权人: 电子科技大学,同方电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号;
- 代理机构: 成都点睛专利代理事务所
- 代理商 孙一峰
- 主分类号: G01S13/42
- IPC分类号: G01S13/42 ; G01S13/87 ; G01S13/06 ; G01S13/88
摘要:
本发明属于电子信息技术领域,具体是涉及一种利用时差与一维方位测量的外辐射源三维定位方法。本发明利用目标反射的外辐射源信号的到达时差与一维方位测量,通过构建外辐射源坐标矩阵、外辐射源距离向量和时差向量,进一步的构建定位矩阵和定位向量,由定位矩阵和定位向量实现目标的三维定位。使用本发明提出的方法,利用外辐射源的位置坐标、目标反射的外辐射源信号的到达时差与一维方位测量,即可对目标进行三维定位,在降低测向系统复杂度的同时,实现对目标测高的目的。
公开/授权文献
- CN112083407A 一种利用时差与一维方位测量的外辐射源三维定位方法 公开/授权日:2020-12-15