- 专利标题: 基于β射线法的挥发性颗粒物补偿测量装置及方法
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申请号: CN202010945698.X申请日: 2020-09-10
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公开(公告)号: CN112098285B公开(公告)日: 2021-04-06
- 发明人: 高建民 , 张红星 , 李东光 , 张志明 , 胥海艳 , 樊海春 , 张涛
- 申请人: 天津同阳科技发展有限公司
- 申请人地址: 天津市西青区滨海高新区华苑产业区兰苑路五号A座-702
- 专利权人: 天津同阳科技发展有限公司
- 当前专利权人: 天津同阳科技发展有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市西青区滨海高新区华苑产业区兰苑路五号A座-702
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 孙蕾
- 主分类号: G01N15/06
- IPC分类号: G01N15/06 ; G01N23/00
摘要:
一种基于β射线法的挥发性颗粒物补偿测量装置及方法,测量装置包括:固定部,固定部上平行间隔设置至少两个光路通道;至少两套测量仪器,匹配对应至少两个光路通道;其中,每套测量仪器包括光电探测器和β射线发射源;光电探测器和β射线发射源分别对应设置于光路通道的两端;气路,与至少两个光路通道相连通,形成串联结构;带状滤膜,垂直于光路通道,且沿穿设至少两个光路通道的方向移动;用于实现对气路中通入的待测气体的颗粒物的捕获。本发明完全采用β射线法即可实现挥发性和半挥发性颗粒物补偿,达到更准确的颗粒物浓度测量。
公开/授权文献
- CN112098285A 基于β射线法的挥发性颗粒物补偿测量装置及方法 公开/授权日:2020-12-18