发明授权
- 专利标题： 电容式测量中补偿温度影响的方法
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申请号： CN201980034306.X申请日： 2019-05-23
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公开(公告)号： CN112154304B公开(公告)日： 2024-01-12
- 发明人: B·安蒂 , H·吉伦斯 , C·乌里格 , C·文德 , L·希尔莱 , D·J·托马斯 , J·利普塔克
- 申请人： IEE国际电子工程股份公司
- 申请人地址： 卢森堡埃希特纳赫
- 专利权人： IEE国际电子工程股份公司
- 当前专利权人： IEE国际电子工程股份公司
- 当前专利权人地址： 卢森堡埃希特纳赫
- 代理机构： 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 刘瑜
- 国际申请： PCT/EP2019/063302 2019.05.23
- 国际公布： WO2019/224291 EN 2019.11.28
- 进入国家日期： 2020-11-20
- 主分类号： G01D5/24
- IPC分类号： G01D5/24 ; G01D18/00 ; G01D3/032
摘要：
(Tcurr)下所确定的阻抗的虚部。描述了一种操作用于温度影响的补偿的电容式测量系统(10)的方法。电容式测量系统(10)包括处于安装状态的至少一个电容式传感器构件(12)和用于根据通过至少一个电容式传感器构件(12)的复感测电流确定未知电容的复阻抗的电容式测量电路(14)。在该方法中，执行校准测量以获得所确定的阻抗的实部和虚部两者的温度特性(42、44)。在随后的在当前温度(Tcurr)下对未知电容的阻抗测量中，确定(58)所测量的阻抗的实部和虚部，并且基于在当前温度(Tcurr)(56)对比文件US 2018095054 A1,2018.04.05JP 2015094726 A,2015.05.18KR 20170130870 A,2017.11.29US 9851324 B1,2017.12.26US 2014028327 A1,2014.01.30US 2013069673 A1,2013.03.21杨三序等.电容传感器测量电路的温度补偿《.传感器与微系统》.2007,(第7（2007年）期),全文.Mozek, M等.DIGITAL TEMPERATURECOMPENSATION OF CAPACITIVE PRESSURESENSORS《.INFORMACIJE MIDEM-JOURNAL OFMICROELECTRONICS ELECTRONIC COMPONENTSAND MATERIALS》.2010,第40卷(第1期),38-44.刘沁等.电容式压力传感器的线性化校正与温度补偿《.仪表技术与传感器》.2010,(第11期),全文.郭文川等.小麦秸秆含水率测量仪的设计与试验《.农业工程学报》.2013,(第01期),全文.
公开/授权文献
- CN112154304A 电容式测量中补偿温度影响的方法 公开/授权日：2020-12-29
